Tipkovnice
en mark scanning sensing, mark scanning
en mass scanning
en ion-beam scanning
en medium-range scanning
en multiple reading, multiple scanning
en flag scanning
en measuring beam, sample beam, scanning beam, specimen beam, test beam
en control room, multi-channel scanning system
en scanning electron micrograph
drobnogleden microscopede Mikroskop
Obvestilo o uporabi piškotkov
Trenutno imate izkljopljeno uporabo ne-nujnih piškotkov.
Ta stran uporablja piškotke. Z nadaljevanjem uporabe te strani soglašate z uporabo nujnih piškotkov. Za ne-nujne piškotke podajte izrecno soglasje.
Več o piškotkih
Dostopnost