Tipkovnice
en scanning of the incident electron beam across the specimen surface
en rays incident farther to the axis
en incident light amplitude
en incident energy
en incident power
en incident optical power
en incident current, incoming current
en incident Signal, incoming signal
en incident wave
Obvestilo o uporabi piškotkov
Trenutno imate izkljopljeno uporabo ne-nujnih piškotkov.
Ta stran uporablja piškotke. Z nadaljevanjem uporabe te strani soglašate z uporabo nujnih piškotkov. Za ne-nujne piškotke podajte izrecno soglasje.
Več o piškotkih
Dostopnost